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SGS金属镀层测试服务
关键词：镀层厚度 镀层成分分析 样品表面污点分析 库伦法 金相法 涡流法 X射线荧光法 电子探针 能谱分析仪 异物分析
SGS针对镀层方面提供全面的检测服务
镀层厚度测试方法主要是库伦法，金相法，涡流测量法和X射线荧光法
库伦法
测量范围：0-35um误差为±10%
精度：0.01um
适用范围：可测量一层镀层金属厚度、多层镀层金属厚度、多层镍厚度和电位差、合金镀、塑料上各种电镀金属，表面光滑，***少有3mm2的平坦测试面
常用测试标准：ASTM B764-04(2009)、ASTM B504-90(2011)、GB/T 4955-2005、ISO 2177-2003
金相法
测量范围：1-100um
精度：0.1um
适用范围：对样品尺寸没有太大的要求
常用测试标准：GB/T 6462-2005、ASTM B487-1985(R2013)、ISO 1463-2003、EN ISO 1463-2004、
JIS H8501-1999、AS 2331.1.1-2001
涡流测量法
测量范围：0.5-200um
精度：0.1um
适用范围：可测量样品涂、镀层的厚度，样品要求表面平整，测试面相当平，误差就小
常用测试标准：GB/T 4957-2003、ASTM D7091-13
X射线荧光XRF
精度：0.01um
适用范围：属于无损测量，对样品没太大要求
常用测试标准：GB/T 16921-2005、ISO 3497-2000、DIN EN ISO 3497-2001、ASTM B568-1998(R2014)
ASTM A754-2011、JIS H8501-1999
镀层成分分析和样品表面污点分析
设备名称：电子探针和光电子能谱仪联用分析
测量精度：0.001%
适用范围：金属及其非金属表面涂、镀层的成分分析,表面污点、异物分析
采用精密分析设备电子探针，对各层成分金相分析，取样方式为切面法，对各层金相高倍放大进行点和面的分析，***薄的覆盖层厚度可以到0.1um，优点是其分析精度高，采样直接有代表性。
光电子能谱仪仪和电子探针联合运用，还可以对样品表面的点分析和面分析，对比分析可以知道材料表面污染造成的原因。