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QG82945GME测试治具特点: 1.座头采用手动翻盖结构,操作灵敏。 2.座头顶盖的芯片压块采用人性化结构,下压力度平稳,***IC的压力均匀,不偏移。 3.探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触性能稳定, 保护锡球外形。 4.理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位***。 5.特殊IC载板结构,保护探针不受外力损坏。 6.探针:进口探针,铍铜镀硬金、铑。寿命5-8万次以上,圆融达。 7.维修成本低:方便更换探针,成本低效率高。 8.高强度耐高温绝缘材料:330度。 9.成熟加工精度范围:跳距pitch=0.38mm。 10.交货周期:***快三天内交货。 圆融达产品适用规范: 1、取放IC时,注意IC一脚方向正确,这样可以避免造成产品短路损坏。 2、操作要规范,压扣的力度要适当,这样可以增加测试治具的使用寿命。 3、取放IC是要把电源关闭,这样可以保护主板。 4、测试时要注意观察指示灯或电流表的状态正常。 5、出现连续数颗芯片测试不良,则请用已确认好芯片进行校对,若通过测试,则可以继续测试,如连续校对几次都未通过,则请专业人员检查或维修测试治具。 6、禁止使用洗板水的液体清洗探针和治具。 7、禁止使用硬金属刮碰测试探针。 8、不使用时,请关闭电源,放置无灰尘的地方存放。 圆融达产品售后保障: 1.100天免费保修(人为损坏除外)。 2.保修期外,免费维修,如果需要换部件,只收对应材料成本费。 3.圆融达可以免费提供相关的技术支持。 圆融达售前服务: 1.提供圆融达产品使用说明及产品维护保养事项。 2.对客户免费使用培训。
规格: |
QG82945G |
数量: |
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包装:标准 |
日期: |
2011-10-03 |
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