影响元器件储存可靠性和储存期长短的主要因素是元器件本身包含的各种缺陷，凡系统中含有存在缺陷的元器件都不能满足系统长期储存的要求，无缺陷或缺陷少的元器件就能满足系统十几年甚至是20年的长期储存要求。美国桑迪亚***实验室(SNL)收集了美国国防部的部分高可靠微电子器件(如MOSLSI、双极型SSI)在非工作状态下的大量储存数据，储存期为8年-10年，甚至20年以上。数据分析表明，非工作状态下元器件的储存失效并非单纯地呈指数分布规律，其失效在较大程度上由设计、制造和生产过程的质量监控失误造成的缺陷所引起。
一.基础参数：
1.型 号：医疗芯片储存恒温抽湿柜/芯片IC防潮存储柜
2.外尺寸：W1020×D480×H1960 mm
3.内尺寸：W920×D380×H1195 mm
4.柜体材质：不锈钢
5.柜门样式：不锈钢双门，不可视窗
6.配送层板：标配三块
7.脚轮数量：四组万向脚轮，带刹车
8.额定电压：AC220V 50Hz
9.峰值功率：1500W
10.均值功率：140W
11.综合控温范围：15℃-30℃
12.综合控湿范围：30%-60%RH
13.温度控制范围：±1℃
14.湿度控制范围：±2%
15.温度波动范围：±2℃
16.湿度波动范围：±10%
17.传感器品牌及测量误差：sht10品牌 ±0.5℃ ±4.5%
18.显示面板：LCD液晶数显，蓝底白字
19.控制系统：华宇现代专利控温控湿系统
二.系统组成：
1.恒温工作系统，环保型制冷方式，在柜壁均匀布冷凝管，使柜内温度平衡；加温采用PTC半导体电阻，使柜内温度平衡。深圳380KWS电子元器件恒温恒湿储存柜
2.恒湿工作系统，采用华宇现代专利除湿技术，利用高分子物理特性，除湿-再生双系统交替对柜内循环作用，作用柜内湿度平衡；加湿采用超声波加湿装置，使柜内湿度平衡。
3.控制系统，控制系统采用华宇现代研发技术，操作便捷，精准检索柜内温湿度参数，高效运行工作系统，使柜内环境参数平衡至设置参数；当柜内环境参数稳定后，控制系统进入待机状态，降低能源损耗；控制系统还具备断电记忆功能，断电重启后可直接运行工作。
三.华宇现代承接订制：
1.柜体尺寸有常规型号，也可按用户要求进行设计订制；
2.柜体材质有彩钢板、钣金喷涂和不锈钢；
3.柜体控温湿度范围有常规，15-30℃ 30-60%RH范围，也可按用户要求进行设计订制；
4.柜体温湿度波动分常规±2℃ ±10%RH、精密±2℃ ±5%RH和高精密±1℃ ±3%RH；
5.柜门样式有可视窗玻璃门、不可视窗不锈钢门和小窗口视窗玻璃门；
6.显示方式有LCD液晶显示和彩色PLC触摸屏显示；
7.柜门锁具有简易机械锁、电子密码锁和电子指纹密码锁；
8.储存方式有隔层式、抽屉式和隔层抽屉组合式（菲林存放，还有挂式和插条式）。深圳380KWS电子元器件恒温恒湿储存柜
对长期库房储存试验和延寿试验的失效样品分析表明，失效的主要原因是由于器件内部水汽影响，其次是芯片、引线脱落。不同类别元器件常见储存失效模式和失效机理见下表。元器件储存失效包括内部结构失效和与封装、键合有关的外部结构失效，而外部结构失效在储存失效中占主要部分，包括封装漏气失效、引线焊接失效、外引线腐蚀断裂等，是由于元器件在储存温度、湿度等环境应力的作用下潜在的外壳、封装工艺缺陷而导致失效。
| 规格： |
HYXD-380KWS |
| 数量： |
100 |
包装：木架包装 |
| 日期： |
2020-03-27 |
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