167.net必赢(中国)官方网站·App Store

帐 号: 密 码: 记住帐号? 忘记密码?
 
      仪表 > 仪表 > 电子测量仪器 > 半导体器件测试仪器
 检索:
正文信息

MOSFET动态参数测试仪

MOSFET动态参数测试仪


报价:  599元
单位: 西安天光测控技术-167.net必赢(中国)官方网站·App Store
姓名: 张先生
电话: 029-87309001
 

MOSFET动态参数测试仪
ST-AC1200_X

用于测试器件级的&﹟160;Diode,IGBT,MOSFET动态交流参数

1200V/100A,短路电流2500A

替代ITC57300,多项功能及指标优于ITC57300


&﹟9830; 技术规格

基础能力
*大输出能力:电压1200V电流200A
*小时间测量值:0.1ns
Windows系统的控制计算机
LabVIEW软件界面
物理规格
单机尺寸:800×800×1800mm
质 量:165kg
系统功耗:200w
&﹟160;
ST-AC1200_S_R
开关时间(阻性)测试单元
美***750
方法为3472
脉宽:0.1us~100us步进0.1μs
栅极电压:0~20V,分辨率0.1V
栅极电流*大10A
漏极电流*大75A(支持扩展200A、500A)
占空比小于0.1%
VDD/漏极电压 &﹟160;5V~100 V分辨率0.1V
&﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160;100 V~1200V分辨率1.0V
ST-AC1200_D
反向恢复特性测试单元
美***750
方法3473
IF/正向电流:0.1~50A@0.1A分辨率
&﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160;50~200A@0.5A分辨率
di/dt/反向电流斜率:25-600A/uS&﹟160; 1.0A/ns Steps
VR/反向电压:20~1200V
IRM/反向电流:总正向和反向*大电流200A以内。
占空比:<1.0% 西安天光测控
TRR/反向恢复时间范围:1ns~2us
VDD/漏极电压:5V~100 V,0.1V Steps
&﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; 100V~1200 V,1.0V Steps
Qrr/反向恢复电荷:0.1nC~100uC
ST-AC1200_Q
栅电荷测试单元&﹟160;&﹟160;&﹟160;
美***750,
方法3471
栅极电流:0~10mA@10uA分辨率
栅级电压:0~20V@0.1V分辨率
漏极电流(固态负载):1~25A@0.1A分辨率
分辨率 西安天光测控
漏极电压:5V~100 V,0.1V Steps
&﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160;100V~1200 V,1.0V Steps
ST-AC1200_S_L
开关时间(感性)测试单元
美***750,
方法3477
漏极电流:1.0~50A@0.2A分辨率
分辨率 西安天光测控
电感:0.1mH至159.9mH(外挂)
栅极电压:0~20V@0.1V分辨率
漏极电压:5V~100V,0.1V Steps
,1.0V Steps
ST-AC1200_S
短路特性测试单元
美***750,
方法3479
*大电流:标配200A(选配1000A)
脉宽:1us~100us
栅极电压:0~20V@0.1V分辨率
漏极电压5V~100V,0.1V Steps
100V~1200 V,1.0V Steps
ST-AC1200_RC
栅电阻结电容测试单元
JEDEC Std
JESD24-11
Rg/栅电阻:0.1~100Ω 西安天光测控
结电容参数:Ciss,Coss,Crss
漏极偏置电压:1200V*大
栅极偏置电压:0~20V@0.1V分辨率
频率:标配0.1MHZ~1MHZ
电网环境
AC220V±10%,50Hz±1Hz。 西安天光测控

MOSFET动态参数测试仪主要用于测试二极管、IGBT、MOS动态特性参数,产品功能指标对标ITC57300,对标资料如下。
&﹟160;资料说明:

对比内容:半导体分立器件动态参数测试系统
对比厂商:美国ITC公司(下文简称ITC)、西安天光测控技术-167.net必赢(中国)官方网站·App Store(下文简称西安天光)
对比型号:ITC/ITC57300、西安天光/ST-AC1200_X
&﹟160; &﹟160;MOSFET动态参数测试仪&﹟160;以ITC57300作为参考标准,西安天光的产品资料中“蓝色字体”为西安天光的减分项(指标低于ITC57300),“红色字体”为西安天光的加分项(指标高于ITC57300),“黑色字体”表示双方指标一致。

美国ITC公司
ITC57300 西安天光测控技术-167.net必赢(中国)官方网站·App Store
ST-AC1200_X
基础能力
*大输出能力:电压1200V电流200A
*小时间测量值:1.0ns
Windows系统的控制计算机
LabVIEW软件界面
西安天光测控
物理规格
高=76英寸
宽=44英寸(包括显示器和键盘)
深=50英寸(包括接收器)
重=550磅
ITC57210 开关时间(阻性)
测试单元 美***750
方法为3472
脉宽:0.1μs~10μs 步进0.1μs
栅极电压±20V分辨率0.1V
栅极电流*大1.0A
漏极电流*大200A
占空比小于0.1%
VDD/漏极电压 &﹟160;5V~100 V分辨率0.1V
&﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; 100 V~1200V分辨率1.0V
水印签字*西安天光测控*水印签字
ITC57220 反向恢复
特性测试单元 美***750
方法3473
IF/正向电流:ITC5722B:1.0~50A@0.2A分辨率
分辨率
di/dt/反向电流斜率:25-600A/uS&﹟160; 1.0A/ns Steps
VR/反向电压:20~1200V
IRM/反向电流:总正向和反向*大电流200A以内。
占空比:<1.0%
TRR/反向恢复时间范围:10ns~2.0us
VDD/漏极电压:5V~100 V,0.1V Steps
100V~1200 V,1.0V Steps
Qrr/反向恢复电荷:1nc~100uC
水印签字*西安天光测控*水印签字
ITC57230 栅电荷
测试单元 美***750
方法3471
栅极电流:低0~2.0mA@0.01mA分辨率
中2.0~20.0mA@0.1mA分辨率
20.0~200.0 mA@1.0mA分辨率
栅电压范围:±20V@±0.1V分辨率
漏极电流(固态负载):1~25A@0.1A分辨率
分辨率
漏极电压:5V~100 V,0.1V Steps
100V~1200 V,1.0V Steps
水印签字*西安天光测控*水印签字
ITC57240 开关时间(感性)
测试单元 美***750
方法3477
漏极电流:1.0~50A@0.2A分辨率
分辨率
电感:0.1mH至159.9mH
栅极电压:±20V@0.1V分辨率
漏极电压:5V~100V,0.1V Steps
,1.0V Steps
水印签字*西安天光测控*水印签字
ITC57250 短路特性
测试单元 美***750
方法3479
*大电流:1000A
脉宽:1us~100us
栅驱电压:±20V@0.1V分辨率
漏极电压5V~100V,0.1V Steps
100V~1200 V,1.0V Steps
水印签字*西安天光测控*水印签字
ITC57260 栅电阻结电容
测试单元 JEDEC Std
JESD24-11
Rg/栅电阻:0.1~50mΩ
结电容参数:Ciss,Coss,Crss
漏极偏置电压:1200V*大
栅极偏置电压:±20V
频率:0.1MHZ~4MHZ
电网环境
220V 50~60 Hz单相 &﹟160;可选择240V
220V/12A&﹟160; 20A&﹟160; 30A
水印签字*西安天光测控*水印签字
基础能力
*大输出能力:电压1200V电流200A
*小时间测量值:0.1ns
Windows系统的控制计算机
LabVIEW软件界面
水印签字*西安天光测控*水印签字
物理规格
单机尺寸:800×800×1800mm
质 量:165kg
系统功耗:200w
ST-AC1200_S_R
开关时间(阻性)测试单元&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;
美***750
方法为3472
脉宽:0.1us~100us步进0.1μs
栅极电压:0~20V,分辨率0.1V
栅极电流*大10A
漏极电流*大75A(支持扩展200A、500A)
占空比小于0.1%
VDD/漏极电压 &﹟160;5V~100 V分辨率0.1V
&﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160; &﹟160;100 V~1200V分辨率1.0V
水印签字*西安天光测控*水印签字
ST-AC1200_D
反向恢复特性测试单元&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;&﹟160;
美***750
方法3473
IF/正向电流:0.1~50A@0.1A分辨率
50~200A@0.5A分辨率
di/dt/反向电流斜率:25-600A/uS&﹟160; 1.0A/ns Steps
VR/反向电压:20~1200V
IRM/反向电流:总正向和反向*大电流200A以内。
占空比:<1.0%
TRR/反向恢复时间范围:1ns~2us
VDD/漏极电压:5V~100 V,0.1V Steps
100V~1200 V,1.0V Steps
Qrr/反向恢复电荷:0.1nC~100uC
水印签字*西安天光测控*水印签字
ST-AC1200_Q
栅电荷测试单元&﹟160;&﹟160;&﹟160;
美***750,
方法3471
栅极电流:


规格:  0
数量:  99 包装:
日期:  2019-06-17  
 
更多产品/信息
分类浏览  

  • LCR测量仪(604)
  • 场强仪(51)
  • 频谱分析仪(805)
  • 信号发生器(711)
  • 测定仪(404)
  • 测振仪(67)
  • 图示仪(27)
  • 脉冲仪(10)
  • 电子元件参数测试仪器(555)
  • 光电器件测试仪器(59)
  • 半导体器件测试仪器(763)
  • 集成电路测试仪器(209)
  • 电真空器件测试仪器(21)
  • 时间、频率测量仪器(20)
  • 微波仪器(9)
  • 场强干扰测试仪器(32)
  • 信号分析仪器(84)
  • 通信测量仪器(474)
  • 记录显示仪器(51)
  • 广播电视测量仪器(2)
  • 声振测量仪器(19)
  • 电导率仪(78)
  • 污泥界面检测(8)
  • 脉冲仪器(30)
  • 器件参数测试仪器(128)
  • 半导体器件图示仪(118)
  • 液位测量仪表(317)
  • 其他电子测量仪器(6503)
  • 网站首页 | 167.net必赢 | 买家资源 | 成功故事 | 付费标准 | 联系方式 | 国外买家 | 外贸服务 | 手机版
    XML 地图