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半导体参数、元器件参数测试仪

半导体参数、元器件参数测试仪


报价:  188元
单位: 西安易恩电气科技-167.net必赢(中国)官方网站·App Store
姓名: 李想
电话: 15249202572
 
技术/参数指标
1 EN-3020C测试系统技术指标
2 栅极极漏电流IGES
栅极电压VGE:0-20V 误差±3% 分辨率0.2V
IGES:0.1-10uA误差±3% 分辨率0.1uA
集电极电压:VCE=0V
3 集电极-发射极电压BVCES
集电极电压VCES:100-3500V 误差±5% 分辨率10V(选配)
集电极电流ICES:0.1mA-30mA 误差±5% 分辨率0.01mA
栅极电压VGE=0V
4 集电极发射极饱和电压VCESAT
VCESAT:0.1-10V
栅极电压VGE:100-3500V误差±2% 分辨率0.2V
集电极电流ICE:10-200A误差±5% (选配)
5 集电极-发射极截止电流
集电极电流ICES:0.1-30mA误差5%分辨率0.01mA
集电极电压VCE:100-3500V误差5%分(选配)
栅极电压VGE:0V
6 栅极-发射极阀值电压VGETH

VGETH:0.1-10V误差±3% 分辨率0.1V
VGE=VCE
集电极电流ICE:30mA误差±3% 分辨率0.1V
7 二极管压降测试VF
VF:0.1-5V误差±3% 分辨率0.01V
栅极电压VGE:0V
电流IF:10-200A误差±5% (选配)
导通电流IC:10-200A 误差±5%
栅极电压VGE:±15V 误差 ±0.2


规格:  800×800×
数量:  100 包装:无
日期:  2019-01-08  
 
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